特定取向的晶面必定與晶體中對應(yīng)的一組互相平行的平面點陣相平行。可以規(guī)定一套整數(shù)hkl來反映某特定晶面及其相應(yīng)平面點陣組的取向，這一套整數(shù)稱為晶面指標(biāo)。晶面（或平面點陣組）指標(biāo)的嚴(yán)格定義是晶面在三個晶軸上的倒易截數(shù)之比。設(shè)a、b、c為晶體的一套基向量，晶面在a軸、b軸、c軸上所截長度分別為ra、sb、tc，則r、s、t為晶面在三個晶軸上的截數(shù)，而1/r、1/s、1/t為倒易截數(shù)。將晶面在三個晶軸上倒易截數(shù)之比化為一組互質(zhì)整數(shù)，即1/r∶1/s∶1/t=h∶k∶l，則這一套互質(zhì)整數(shù)即為晶面指標(biāo)，用（hkl）符號來表示。

標(biāo)簽：面的指標(biāo)